[1]黄晓琴,吴宗汉,欧阳毅.测量薄膜驻极体内注入电荷平均深度的新方法[J].东南大学学报(自然科学版),1991,21(6):98-101.[doi:10.3969/j.issn.1001-0505.1991.06.015]
 Huang Xiaoqin,Wu Zonghan,Ouyang Yi,et al.A New Method for Determination of Depth of Injected Charges in Film Electrets[J].Journal of Southeast University (Natural Science Edition),1991,21(6):98-101.[doi:10.3969/j.issn.1001-0505.1991.06.015]
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测量薄膜驻极体内注入电荷平均深度的新方法()
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《东南大学学报(自然科学版)》[ISSN:1001-0505/CN:32-1178/N]

卷:
21
期数:
1991年第6期
页码:
98-101
栏目:
本刊信息
出版日期:
1990-11-20

文章信息/Info

Title:
A New Method for Determination of Depth of Injected Charges in Film Electrets
作者:
黄晓琴吴宗汉欧阳毅
南京师范大学; 东南大学物理系
Author(s):
Huang Xiaoqin Wu Zonghan Ouyang Yi Wu Zonghan Ouyang Yi
Nanjing Normal University
Department of Physics
关键词:
electret measurement average depth
分类号:
+
DOI:
10.3969/j.issn.1001-0505.1991.06.015
摘要:
<正> 不少科学工作者在驻极体注入电荷平均深度的测量方面做了很多工作,但测量所用的设备、技术都很复杂,如激光脉冲法等。若用短路TSC测量,为了保持样品与电极接触良好,必须进行电极涂敷,这样就破坏了原有的电荷分布。为此,我们用开路TSC方法对双裸面薄膜驻极体注入电荷的深度进行测定,取得了良好的结果。 1实验原理将两面不蒸金的薄膜驻极体置于上、下电极之间,但不与上、下电极相接触(见图1)。在加热过程中,驻极体内的电.
更新日期/Last Update: 2013-04-20