[1]高梅芳,沈克强,魏同立,等.低温ECL电路直流特性测试与分析[J].东南大学学报(自然科学版),1996,26(1):134-138.[doi:10.3969/j.issn.1001-0505.1996.01.026]
 Gao Meifang,Shen Keqiang,et al.DC Characteristics Measurement and Analysis of ECL Circuit at Low Temperature[J].Journal of Southeast University (Natural Science Edition),1996,26(1):134-138.[doi:10.3969/j.issn.1001-0505.1996.01.026]
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低温ECL电路直流特性测试与分析()
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《东南大学学报(自然科学版)》[ISSN:1001-0505/CN:32-1178/N]

卷:
26
期数:
1996年第1期
页码:
134-138
栏目:
电子科学与工程
出版日期:
1996-01-20

文章信息/Info

Title:
DC Characteristics Measurement and Analysis of ECL Circuit at Low Temperature
作者:
高梅芳沈克强魏同立李垚
东南大学微电子中心
Author(s):
Gao Meifang; Shen Keqiang; Wei Tougli; Li Yao
Microelectronics Center, Southeast University, Naming 210018
关键词:
ECL circuit low temperature DC characteristics
分类号:
TN710.7
DOI:
10.3969/j.issn.1001-0505.1996.01.026
摘要:
低温ECL电路直流特性测试与分析高梅芳,沈克强,魏同立,李垚(东南大学微电子中心,南京210018)本文通过对低温ECL电路和常温ECL电路的比较和测试分析得知,晶体管饱和电流随温度下降而急剧下降,这是影响电路工作性能的主要因素.并指出,这种影响可通..
更新日期/Last Update: 2013-04-15