[1]于虹,朱利.采用新型晶体测量超短光脉冲[J].东南大学学报(自然科学版),1997,27(1):78-81.[doi:10.3969/j.issn.1001-0505.1997.01.016]
 [J].Journal of Southeast University (Natural Science Edition),1997,27(1):78-81.[doi:10.3969/j.issn.1001-0505.1997.01.016]
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采用新型晶体测量超短光脉冲()
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《东南大学学报(自然科学版)》[ISSN:1001-0505/CN:32-1178/N]

卷:
27
期数:
1997年第1期
页码:
78-81
栏目:
电子科学与工程
出版日期:
1997-01-20

文章信息/Info

作者:
于虹朱利
东南大学电子工程系
关键词:
POM晶体 强度自相关检测 超短光脉冲
分类号:
TN247
DOI:
10.3969/j.issn.1001-0505.1997.01.016
摘要:
采用新型晶体POM作倍频器件,建立了超短光脉冲二阶强度自相关检测系统,并对半导体超短光脉冲进行了测量.系统的最小可检测平均光功率为100μW,可测最大脉宽为180ps,最高分辨率为16fs.

备注/Memo

备注/Memo:
国家自然科学基金,通信863计划、电子部八五军事电子预研基金
更新日期/Last Update: 2013-04-14