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    关键词中包括 negative bias temperature instability(NBTI) 的文章

1 pMOSFET的NBTI退化机理及内在影响因素
张春伟1,刘斯扬1,张艺1,孙伟锋1,苏巍2,张爱军2,刘玉伟2,胡久利2,何骁伟2
2015年第4期 [663-667][摘要](1800)[pdf 1867KB](1056)