[1]邵力为,刘洁美,胡嗣安,等.掺氮吸气剂的俄歇能谱分析[J].东南大学学报(自然科学版),1990,20(3):98-102.[doi:10.3969/j.issn.1001-0505.1990.03.016]
 AES Analysis of the Mixed Nitrogen Getter[J].Journal of Southeast University (Natural Science Edition),1990,20(3):98-102.[doi:10.3969/j.issn.1001-0505.1990.03.016]
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掺氮吸气剂的俄歇能谱分析()
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《东南大学学报(自然科学版)》[ISSN:1001-0505/CN:32-1178/N]

卷:
20
期数:
1990年第3期
页码:
98-102
栏目:
本刊信息
出版日期:
1990-05-20

文章信息/Info

Title:
AES Analysis of the Mixed Nitrogen Getter
作者:
邵力为刘洁美胡嗣安侃仕中
东南大学分析测试中心; 东南大学分析测试中心; 华东电子管厂
关键词:
Auger electrons surface analysis getters
分类号:
+
DOI:
10.3969/j.issn.1001-0505.1990.03.016
摘要:
<正> 文[1]认为掺氮吸气剂蒸散时产生的“拱起”现象是由于蒸散残体产物的膨胀系数差异引起的。然而,这只是产生“拱起”质量问题的一方面,即产生原动力的一面,应该说蒸散残体表面生成物的差异是绝对的,而造成这些差异的大小则是相对的,对于“拱起”现象的研究,除了原动力的一面,还应该存在产生抑制作用的另一面,正由于抑制作用的存在,才有避免“拱起”产生的可能,这就是指蒸散残体与不锈钢基环之间的结合情况,运用俄歇能谱的分析将能揭开其界面的结合之谜。

相似文献/References:

[1]邵力为,刘洁美,娄维鸿,等.共振光电子及俄歇电子出电势谱复合分析管的研制和应用[J].东南大学学报(自然科学版),1987,17(1):137.[doi:10.3969/j.issn.1001-0505.1987.01.016]
 Shao Liwei,Liu Jeimei,Lou Weihong,et al.The Research and Application of the Compound Tube for Resonant Photoelectron and Auger Electron Appearance Potential Spectroscopy[J].Journal of Southeast University (Natural Science Edition),1987,17(3):137.[doi:10.3969/j.issn.1001-0505.1987.01.016]
[2]吴敬文,陈浩,丁德胜,等.扫描隧道谱研究半导体硅掺杂[J].东南大学学报(自然科学版),1995,25(6):154.[doi:10.3969/j.issn.1001-0505.1995.06.029]
 Wu Jingwen,ChenHao,Ding,et al.Study on Silicon Doping by Scanning Tunneling Spectroscoopy[J].Journal of Southeast University (Natural Science Edition),1995,25(3):154.[doi:10.3969/j.issn.1001-0505.1995.06.029]

更新日期/Last Update: 2013-04-21